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产品名称:
金属，半导体阻抗测定装置
产品型号:
TER系列
产品展商:
弘埔技术(香港) 有限公司
简单介绍
金属，半导体阻抗测定装置 是用直流四端子法，精密地测量金属合金，半导体的电阻。
金属，半导体阻抗测定装置的详细介绍
金属，半导体阻抗测定装置TER系列
对于金属的相变，时效析出，再结晶反应
本装置是用直流四端子法，精密地测量金属合金，半导体的电阻。
●用途
对于金属相变，时效析出，再结晶的过程研究。
对于无形金属的再结晶的过程分析。
对于记忆形合金的研究。
测定各种半导体材料的温度VS电阻的关系。
●特长
可在定速升温，定温保持过程中测量材料电阻。
用直流四端子法进行高精度测量。
无热起电的影响。
●技术指标
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测定温度范围
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①-150～200℃ ②室温～最高1400℃
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测定方式
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自流四端子法
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测定范围
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100Ω～5×10-5 Ω
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试样台
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φ10mm×100mm
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测定气氛
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不活性气体，大气，真空
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